Тестер полупроводников (транзисторный) LCR-T4 ESR c дисплеем + бокс

800 руб.
Бонусов:
30

Артикул: рем-207
Наличие на складах:
тц "Надежда" (р-н Спортивной)
тц "Европейский" (р-н Второй речки)

Уведомить о поступлении

Описание

Тестер полупроводников LCR-T4, на базе микросхемы Mega328. Автоматическая идентификация радиоэлектронных компонентов (резистор, конденсатор, катушка индуктивности, диод, двойной диод, биполярный NPN, PNP транзистор, N- канальный и Р- канальный MOS FET, JFET транзистор, маломощный тиристор, симистор. Измерение сопротивления, емкости, индуктивности, прямого напряжения перехода в диодах и биполярных транзисторах, емкости и порогового напряжения затвора в полевых транзисторах, обнаружение защитных диодов в транзисторах.
 Питание 9V от батареи типа "Крона" (не входит в комплект поставки).

Разряжайте конденсаторы до тестирования!!!

Тестер автоматически обнаруживает NPN и PNP транзисторы, N-канальные и P-канальные МОП-транзисторы, диоды (в том числе двойные диоды), тиристоры, транзисторы, резисторы и конденсаторы, определяет номера и типы выводов. Время теста 1-2 секунды (за исключением конденсаторов большой емкости ).
Одна кнопка управления. Автоматически отключается. Измерение: сопротивления индуктивности омическое сопротивление индуктивности емкости конденсатора внутреннего сопротивления конденсатора ESR автоматическое определение типа и распиновки транзисторов и диодов(выводится на экран) измерение коэффициента передачи тока базы биполярного транзисторов определение напряжения насыщения биполярного транзистора измерение емкости затвора полевого транзистора определение напряжения открытия полевого транзистора измерение падения напряжения на диоде измерение паразитной емкости диода
Измеритель индуктивности:
1. Тест полупроводников, конденсаторов, резисторов, индуктивностей производится за одну операцию – нажатием кнопки. Автоматическое выключение после теста.
2. Потребляемый ток после отключения не более 20nA .
3. Диапазон измерения резисторов составляет от 0,1 Ом до 50M Ом с точностью 1%.
4. Диапазон измерения емкости составляет от 25рF до 100mF и точностью 1%.
5. Диапазон измерения индуктивности составляет от 0,01mН до 20H и точностью 1%.
6. Автоматическое определение NPN, PNP биполярных транзисторов , N -канальных и Р- канальных MOS FET, JFET транзисторов , диодов, двойных диодов, тиристоров небольшой мощности, однонаправленных и двунаправленных тиристоров.
7. Автоматическое определение цоколевки полупроводников.
8. Измерение в биполярных транзисторах коэффициента усиления и порогового напряжения база – эмиттер.
9. Обнаружение защитных диодов в биполярных и MOS FET транзисторах. Тестер полупроводников
10. Идентификация транзисторов Дарлингтона.
11. Измерение порогового напряжения и емкости затвора в MOS FET транзисторах.
12. Измерение ESR конденсатора с разрешением 0,01 Ом. ESR измеритель
13. Измерение двойных резисторов (потенциометров) с отображение на дисплее символов резистора.
14. Отображение символов двойных диодов с измерением прямого напряжение каждого перехода.
15. Определение комбинированных светодиодов.
16. Определение напряжения пробоя в стабилитронах с напряжением не более 4.5V.